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——AFM納米形貌表征從未如此簡單！
ICSPI公司在便攜式nGauge原子力顯微鏡（AFM）的基礎(chǔ)上進(jìn)行了全新升級，推出了新一代的便攜式原子力顯微鏡Redux。Redux原子力顯微鏡（AFM）除了具有方便攜帶，操作簡單，掃描速度快，可掃描大尺寸樣品，無需維護(hù)等優(yōu)點，還可以迅速找到感興趣的測量位置，實現(xiàn)相關(guān)區(qū)域的快速高精度測量。適合各類納米表征應(yīng)用場景，從科學(xué)研究、高等教育到工業(yè)用戶的樣品3D表面形貌快速成像分析等，革命性的創(chuàng)新技術(shù)的降低了傳統(tǒng)AFM的復(fù)雜操作，也的拓寬了傳統(tǒng)AFM的應(yīng)用范圍！
適合各類納米表征應(yīng)用場景
半導(dǎo)體工業(yè)
材料工業(yè)
納米技術(shù)
生命科技
涂料，聚合物和復(fù)合材料等
高等教育
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產(chǎn)品特點
更小巧，更便攜
獨特的AFM微納機(jī)電芯片，使得Redux/nGauge原子力顯微鏡（AFM）系統(tǒng)僅有公文包大小，可隨身攜帶。
更簡單，更易用
只需點擊鼠標(biāo)三次即可獲得樣品表面納米級形貌信息，無需配置減震平臺。
第一步：通過內(nèi)置光學(xué)顯微鏡尋找掃描區(qū)域；
第二步：Redux/nGauge幫助掃描探針自動尋找樣品表面；
第三步：點擊掃描，獲取樣品表面形貌信息。
維護(hù)簡單，性價比高
類金剛石針尖保證AFM探針超長壽命，且無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護(hù)工作。
Redux采用的壓電AFM探針技術(shù)以及耐用的探針針尖（左圖）。中圖為一根探針第215次掃描樣品的結(jié)果，右圖為第1164次掃描樣品的結(jié)果
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nGauge AFM |
傳統(tǒng) AFM |
SEM |
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大氣環(huán)境下運行 |
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自動尋找樣品表面 |
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N/A |
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設(shè)備安裝時間 |
5 分鐘 |
1-2 周 |
1-2 周 |
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掃描樣品時間 |
2 分鐘 |
1 小時 |
30 分鐘 – 1 小時 |
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隨測隨走 |
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培訓(xùn)時間 |
1 小時 |
12+ 小時 |
12+ 小時 |
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無需激光對準(zhǔn) |
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普通市電/USB供電 |
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更換探針難度 |
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N/A |
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3D表面形貌成像 |
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成像分辨率 |
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不導(dǎo)電樣品表征 |
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測試數(shù)據(jù)
微柱陣列三維成像
二氧化硅聚合物復(fù)合材料相掃描結(jié)果
半間距為200nm的光柵形貌表征
數(shù)據(jù)存儲單元納米結(jié)構(gòu)三維形貌表征
丹麥Akasel公司檢測鋼鐵拋光樣品表面
美國Biotech公司表征皮膚樣本
美國Applied Nanotool公司微納光學(xué)器件品控
光電子領(lǐng)域器件檢測
發(fā)表文章
1. Zhao, P., et al., Multiple antibiotics distribution in drinking water and their co-adsorption behaviors by different size fractions of natural particles. Science of The Total Environment, 2021. 775: p. 145846.
2. Guo, P., et al., Vanadium dioxide phase change thin films produced by thermal oxidation of metallic vanadium. Thin Solid Films, 2020. 707: p. 138117.
3. Connolly, L.G., et al., A tip-based metrology framework for real-time process feedback of roll-to-roll fabricated nanopatterned structures. Precision Engineering, 2019. 57: p. 137-148.
4. O'Neill, C., et al., Effect of tooth brushing on gloss retention and surface roughness of five bulk‐fill resin composites. Journal of Esthetic and Restorative Dentistry, 2018. 30(1): p. 59-69.
用戶單位
nGauge全球代表性用戶
