按品牌選擇
 |
|
|||||||||||||||||||||||||||||
| [發表評論] [本類其他產品] [本類其他供應商] [收藏] | ||||||||||||||||||||||||||||||
| 銷售商： 卡爾蔡司（上海）管理有限公司 | 查看該公司所有產品 >> |
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列
[ 產品簡介 ]
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列，是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。該系列將場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)鏡筒出色的加工能力相結合。無論是加工、成像或進行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應用效率。模塊化的平臺概念可以進行后續系統升級，從而滿足您不斷增加的應用需求。通過加裝飛秒激光（Femtosecond Laser）模塊，Crossbeam的加工效率和尺度可進一步拓展，同時可以滿足多種微納加工需求。無論是在科研實驗室或工業環境中工作，抑或是單用戶或多用戶工作環境，都能提供高質量的解決方案。
[ 產品特點 ]
- 低電壓下獲得高分辨率電子圖像
- 可實現大尺寸到納米精度的切割
- 批量自動制備TEM薄片樣品
- Atlas 5可創建多尺度、多模式綜合圖像
- ToF-SIMS 實現高通量3D成分分析
- 獨特的無漏磁電子鏡筒實現真正邊切邊看
- 不導電樣品不受荷電效應影響
- 加裝飛秒激光模塊，實現亞毫米級快速加工，同時有效避免腔室污染
- 生命科學，如斷層掃描，三維重構
- 電池領域，如組分表征
- 半導體領域，如失效分析，電路修復
- 金屬領域，如界面分析，亞表面分析
- 材料科學，如晶體微觀結構分析，微納圖形加工
- 透射電鏡、原子探針（ATP）、EBSD、微納力學等多種樣品的原位制備
 |
 |
|
| GaN HEMT器件TEM樣品制備 | 在硅基底上加工納米微流通道 | |
 |
 |
|
| 3D NAND連續層析成像 | 原子探針樣品制備 | |
 |
 |
|
| Laser大截面快速加工及IC中微柱截面背散射電子成像 | 線蟲三維成像 |
Copyright(C) 1998-2025 生物器材網 電話：021-64166852;13621656896 E-mail：info@bio-equip.com