SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。
擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。

分辨率
高真空：3 nm @ 30 kV（SE），8 nm @ 3 kV（SE），4 nm @ 30 kV（BSE）
①低真空：3 nm @ 30 kV（SE）

放大倍率
②1~300，000x ；③1~1000，000x

加速電壓
0.2 kV ～ 30 kV

①選配低真空二次電子探測器； ②底片倍率； ③屏幕倍率

低電壓
低真空
大視場
導航&防碰撞

光學導航
想看哪里點哪里，導航更輕松
標配倉內攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片，快速定位樣品。

手勢快捷導航
可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大，進行快捷導航
如框選放大：在低倍導航下，獲得樣品的大視野情況，可快速框選您感興趣的樣品區域，提高工作效率。

防碰撞技術
采取多維度的防碰撞方案：
1. 手動輸入樣品高度，精準控制樣品與物鏡下端距離，防止發生碰撞；
2. 基于圖像識別和動態捕捉技術，運動過程中對倉內的畫面進行實時監測；
3. 硬件防碰撞，可在碰撞一瞬間停止電機，減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能）

豐富擴展性
掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察，更可以進行樣品表面的微區成分分析。
SEM3200接口豐富，除支持常規的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、X射線能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，如電子背散射衍射（EBSD）、陰極射線（CL）等探測器都可以在SEM3200上進行集成。
 

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