奧林巴斯BX53M材料科學正置金相顯微鏡是科研級顯微鏡，主要用于金相、工業、材料、半導體等方面的材料分析和檢測，幫助使用者快速觀察樣品微觀形貌和組織結構。

采用模塊化設計的BX3M系列具備適用多種材料科學和工業應用的多功能性。通過與奧林巴斯Stream軟件更加出色的集成，BX53M為標準顯微鏡和數字成像用戶提供了從觀察到報告創建的無縫工作流程。

六種BX53M推薦配置讓您獲得選擇所需功能的靈活性。

• 通用：入門，標準，高級

• 專用：熒光，紅外，偏振

• 多種配置滿足用戶需求

• 模塊化設計，按自己的方式打造您的系統

BX53M利用精心設計且易于使用的控件讓復雜顯微鏡檢查任務得到簡化。用戶無需進行深入培訓即可充分使用顯微鏡功能。BX53M簡單、舒適的操作還可通過最大限度減少人為錯誤提高可重復性。

• 簡易照明器

• 直觀的顯微鏡控制

• 快速發現焦點

• 均勻一致的照明

• 簡便且符合人體工學的操作

• 輕松恢復顯微鏡設置

• 基本測量功能

BX53M保留了諸如明場、暗場、偏光和微分干涉等常規顯微鏡的傳統對比方法。隨著新材料的開發，與使用標準對比法檢測缺陷相關的許多難題均可通過先進顯微鏡技術解決，從而可以實現更加準確和可靠的檢查。全新照明技術以及奧林巴斯Stream圖像分析軟件的圖像采集選項為用戶評估樣品和存檔檢測結果提供更多選擇。

• 讓看不見的變得可見

• 創建全焦點圖像

• 輕松移動全景載物臺

• 亮區和暗區均可采集

• 可根據觀察和分析偏好進行調整

• 可適用于各種樣品

奧林巴斯開發高品質光學器件的悠久歷史令其打造了久經驗證的光學品質以及具有出色測量精度的顯微鏡。

• 出色的光學性能

• 穩定的色溫和高強度白光LED照明

• 支持精確測量

• 無縫拼接

R-BF：明場（反射）
T-BF：明場（反射/透射）
DF：暗場
DIC：微分干涉/簡易偏光
MIX：MIX
FL：熒光
IR：紅外線
POL：極化

奧林巴斯BX53M材料科學正置金相顯微鏡是科研級顯微鏡，主要用于金相、工業、材料、半導體等方面的材料分析和檢測，幫助使用者快速觀察樣品微觀形貌和組織結構。